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Taylor Hobson Talysurf CCI Lite輪廓儀

  • 更新時間:2020-05-08
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Taylor Hobson Talysurf CCI Lite輪廓儀
Talysurf CCI Lite的好處還在于它的多功能 性,無論是拋光,粗糙的,曲面的,平面的 或者臺階表面,只要反射率在0.3%到100% 之間,都可以在同意模式里測量,而不用擔(dān) 心功能性的錯誤。各種材料類型都可以被測量,如玻璃,液體, 照片,金屬,復(fù)合材料及粘膜。

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品牌TaylorHobson/英國泰勒霍普森價格區(qū)間面議
產(chǎn)品種類非接觸式輪廓儀/粗糙度儀產(chǎn)地類別進口
應(yīng)用領(lǐng)域電子,交通,冶金,航天,汽車

Taylor Hobson Talysurf CCI Lite輪廓儀所有的表面都能夠被檢測:

Talysurf CCI Lite的好處還在于它的多功能 性,無論是拋光,粗糙的,曲面的,平面的 或者臺階表面,只要反射率在0.3%到100% 之間,都可以在同意模式里測量,而不用擔(dān) 心功能性的錯誤。各種材料類型都可以被測量,如玻璃,液體, 照片,金屬,復(fù)合材料及粘膜。

數(shù)據(jù)分析 

表面能夠使用通用的數(shù)據(jù),被量化地分 析三維與二維的表面數(shù)據(jù),區(qū)域與容積數(shù)據(jù)
        •  120種E二維參數(shù),40種三維參數(shù)
        •  計數(shù)與分類
        •  自動臺階高度測量t

自動操作 

標(biāo)準(zhǔn)的自動控制,可編程的XYZ平臺及自動 聚焦,能夠非常容易地測量單一表面或復(fù)雜 形狀。XYZ縫補功能更滿足了形狀陡峭的表 面與大面積測量的需要。

Talysurf CCI Lite是基于世界*先相關(guān)相干計算法的新一代光學(xué)干涉儀,*的光學(xué)測量結(jié)果同時適應(yīng)精密工業(yè)測量與研究部門。The Talysurf CCI Lite 是一臺良好的光學(xué)干涉 儀,它采用了創(chuàng)新的,**的相關(guān)相干算法, 去尋找通過光學(xué)掃描得到的干涉圖象中的一致 點與相位The Talysurf CCI Lite 對于高精度的3D測量 而言是無價的,通過采用不同的物鏡頭,可 以檢測不同的表面,全自動的工作臺能適應(yīng) 高水平的靈活應(yīng)用。

 

Taylor Hobson Talysurf CCI Lite輪廓儀關(guān)鍵特性:

    ? 強大而 穩(wěn)定的Z軸掃描
    ? 快速自動XY平臺與Z軸聚焦
    ? 靈活的Z軸范圍-2.2mmZ軸范圍(縫補功能> 10mm)
    ? 精確的數(shù)據(jù)點-標(biāo)準(zhǔn)配置超過百萬的采集數(shù)據(jù)
    ? 簡單-對所有表面都只需要一種測量模式

 

篤摯儀器(上海)有限公司專業(yè)代理英國泰勒Taylor Hobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀等,篤摯技術(shù)服務(wù)部與匯聚資源的合作品牌一起,以共同對計量及試驗技術(shù)的專注和專業(yè),致力于在質(zhì)量檢測領(lǐng)域,為客戶提供區(qū)域化和化的廣泛而的技術(shù)支持服務(wù),確保操作和維護儀器的總體有效性和成本優(yōu)化,增強您測量和檢測的可靠性和性能。歡迎留言或電詢,或進入篤摯網(wǎng)上儀器展廳瀏覽更多便攜式粗糙度儀Surtronic DUO和Surtronic 25的詳情。

篤摯儀器(上海)有限公司是英國泰勒Taylor Hobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀等的專業(yè)經(jīng)銷商,歡迎電詢或登陸篤摯公司主頁,查看便攜式粗糙度儀Surtronic S-100更多技術(shù)規(guī)格和配置的詳細(xì)介紹。篤摯公司將以優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品、優(yōu)勢價格、優(yōu)質(zhì)服務(wù),為您提供高性價比的解決方案。

 

系統(tǒng)參數(shù)
測量方法相關(guān)相干算法
Z軸測量范圍2.2 mm as standard (>10mm with Z stitchiing)
Z軸分辨率[max]0.01 nm [0.1 Å]
噪音Noise floor (Z)<0.08 nm [0.8 Å] 1
RMS重復(fù)性精度<0.02 nm [0.2 Å] 2
測量面積(X, Y)6.6 mm (>75mm with XY stitching)
測量數(shù)據(jù)點(X, Y)1024 x 1024 standard
XY分辨率0.4 - 0.6µm (surface dependent)
臺階高度重復(fù)性< 0.1%
表面反射率0.3% - 100%
測量時間5-40 seconds (typical

 

英國泰勒Talysurf CCI Lite技術(shù)文件一

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